行業動態
發現最新行業動態及技術發展新聞
發布日期：2023-05-22 11:34:50
原子力顯微鏡探針是在STM的基礎上發展起來的。它用于通過測量樣品表面上的分子（原子）與AFM微懸臂探針之間的相互作用來觀察樣品表面的形態。
發布日期：2023-04-12 10:00:44
原子力顯微鏡探針能夠探測到幾乎所有的材料，包括金屬、半導體、陶瓷、聚合物、生物分子等。
發布日期：2023-04-04 10:41:35
原子力顯微鏡探針，簡稱AFM（AtomicForceMicroscope），是一種利用微小力量探測物質表面的工具。它具有高分辨率、高靈敏度和不需要顯影劑等優點，因此在材料科學、表面科學、納米學、生物科學等領域得到廣泛應用。
發布日期：2023-03-23 11:01:03
原子力顯微鏡探針是一種非接觸式呈量子力學效應的微小探頭，也被稱為“納米高精度計”、“納米級掃描振鏡”等。它由納米級電子學傳感器、微機械臂等部分組成，可測定固體物質表面的微觀形貌和性能特征。
發布日期：2023-03-13 14:59:37
原子力顯微鏡探針的工作模式都有哪些？
原子力顯微鏡探針是一種分析儀器，可用于研究固體材料（包括絕緣體）的外層結構。它通過檢測待測展示物外層和微力傳感元件當中微弱的原子間相互作用來研究材料的外層結構和財產。根據探針與展示物外層相互作用力的變化，AFM有三種主要工作系統：碰達系統、非碰達系統和輕敲系統。
發布日期：2023-03-03 11:17:00
原子力顯微鏡探針是什么？
原子力顯微鏡探針是一種新型的探測技術，它可以提供更精確的細胞結構和分子結構的信息，從而更好地了解細胞的功能和結構。
發布日期：2023-02-11 11:12:25
原子力探針廠家認為在材料科學中，有文獻要研究無機材料或有機材料是結晶的還是無定形的分子或原子的存在狀態，中間體和各種相的變化，以找出結構與性質之間的規律。在這些研究中，AFM使研究人員能夠從分子或原子水平上直接觀察晶體或非晶的形貌、缺陷、空位能、聚集能以及各種力的相互作用。這些對于掌握結構與性能的關系非常重要。
發布日期：2023-02-01 11:15:48
掃描探針顯微鏡探針廠家認為一般的化學分析方法只能得到分析樣品的平均成分，而在電子顯微鏡上可以實現與微區形貌相對應的微區分析，因此對于研究材料的微觀結構和元素分布是有用的分析方法。電子探針的作用主要是分析微區的成分。它是一種基于電子光學和X射線光譜學原理開發的高 效分析儀器。