原子力探針廠家認為在材料科學中，有文獻要研究無機材料或有機材料是結晶的還是無定形的分子或原子的存在狀態，中間體和各種相的變化，以找出結構與性質之間的規律。在這些研究中，AFM使研究人員能夠從分子或原子水平上直接觀察晶體或非晶的形貌、缺陷、空位能、聚集能以及各種力的相互作用。這些對于掌握結構與性能的關系非常重要。

原子力探針廠家認為納米材料是當今材料領域備受關注的話題，AFM也是納米材料微觀研究中的一種分析和可視化工具。隨著納米材料科學的發展和納米制備技術的進步，需要新的測試技術和表征方法來評價納米粒子的粒徑、形貌、分散性和團聚性。

原子力探針廠家認為原子力顯微鏡的橫向分辨率為0.1 ~ 0.2 nm，縱向分辨率為0.01nm，可有效表征納米材料。納米科學與技術是在納米尺度(0.1 ~ 100納米)上研究物質(包括原子和分子)的特性和相互作用，并利用這些特性的一門新科學。其目標是在納米尺度上直接根據物質的特性制造出具有特定功能的產品，實現生產力的飛躍。納米科學包括納米電子學、納米力學、納米材料、納米生物學、納米光學和納米化學。

原子力探針廠家認為納米科學的不斷成長和發展與以掃描探針顯微鏡為代表的各種納米尺度研究方法的產生和發展密切相關。可以說，SPM的問世對納米技術的誕生和發展起到了基礎性的推動作用，納米技術的發展為SPM的應用提供了廣闊的天地。SPM是各種顯微技術的大家族，包括掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。SPM不僅能以納米尺度甚至原子尺度的空間分辨率觀測真空、大氣或液體中物質表面原子或分子的幾何分布和態分布密度，還能確定物體的局部光、電、磁、熱和機械特性，應用范圍非常廣泛，如刻劃納米級細線，甚至實現對原子和分子的操縱。這項技術集觀察、分析和操縱原子和分子的功能于一體，已經成為納米科學研究的主要工具。

原子力探針廠家認為在粉體材料的研究中，自然界和工業生產中存在大量的粉體材料，但目前粉體材料的檢測方法較少，樣品制備困難。AFM提供了一種新的檢測方法。樣品制備簡單，易于操作。