原子力顯微鏡

MultiMode 8
  • 產品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產品產地: 德國
  • 應用領域: 半導體、納米材料、通訊、生物學、數據儲存、食品、化學、地質、能源、環境等，即物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域
  • 產品簡介: MultiMode? 測試平臺作為歷史悠久的經典機型，由于其卓越的分辨率與性能享譽至今。Multimode 8-HR 原子力顯微鏡通過高速PeakForce Tapping ?、增強的 PeakForce QNM?、全新的 FASTForce Volume和獨家布魯克探針技術，在成像速度、分辨率和納米機械性能方面有了進一步的改進，使得綜合性能顯著提升

一、亮點

MultiMode®是世界上最受歡迎的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認可，迄今為止數以萬計的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經在全球成功安裝使用。其世界領先的超高分辨率，完備的儀器性能，無與倫比的多功能性，以及得到充分驗證的完美表現和實驗可靠性，奠定了其在AFM領域的領導地位。Bruker作為生命科學和分析儀器領域出色的領導者，始終致力于為用戶提供最好的解決方案，總結成功的經驗，不斷創新，推出了MultiMode®系列的最新型號MultiMode8。使用Bruker最新的專利技術Peak Force Tapping掃描模式，獲得更多的樣品信息，操作更簡單，性能更優越，大大提高了工作效率。

1）簡便易行，輕松獲得專業結果


  • 使用最新的自動掃描成像模式ScanAsyst?，研究人員不必再去繁瑣地調整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質量圖像。
  • 在溶液環境下掃描更簡便易行，它無需進行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。


2）功能強大的定量成像模式


  • Bruker專利的新型成像模式PeakForce? QNM?，可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統的相位成像和某 些 廠 家 的 多 頻 技 術 不 同 的 是 ， 使用Peakforce?  QNM?模式可獲得精確、定量的實驗數據。
  • PeakForce TUNA?模塊，能夠定量測量樣品的導電特性，這是傳統的導電模式所不能實現的。
  • 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實現快速掃描模式。與傳統的AFM相比，在其速度提高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。最快掃描速度，可比傳統的AFM提高20倍。


3）具有最高的分辨率和測試性能


  • 迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發表大量高水平論文，幫助科學家們解決了諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計，即使樣品的測試難度大，測試條件極為苛刻，也能實現低系統噪音，獲得超高分辨率的圖像。
  •  NanoScope®VI控制器提供業界最低的系統噪音和無可比擬的超高帶寬，大大提高了數據分析能力，適用于更多的研究領域。
  • Bruker獨創的Peak Force Tapping® 技術，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠低于TappingMode?所需要的力。


4）功能完備，適用于各研究領域


  • 大氣或者溶液環境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其超高分辨率和卓越完備的功能，被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。
  • 在MultiMode8上可選配溫度調節和環境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實現敏感樣品的檢測和成像。
  • MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標。


5）操作高效簡便，數據精確可靠


  •  MultiMode系列原子力顯微鏡不斷創新，追求卓越，吸引越來越多的科研人員選擇這套系統進行研究工作，MultiMode系列產品成為世界用戶最多，最受歡迎的原子力顯微鏡。
  • 除了產品本身強大的測試功能，布魯克還在全球配備應用和技術支持工程師，解決客戶實際工作中的各類問題 。



二、MultiMode 8 HR 數據庫


1）聚(3-六基乙基苯) (P3HT)有機導電納米線的PF TUNA電流圖,電壓為3V。掃描范圍為3um ,電流從0到80 pA范圍內變化。

 

2）五氧化二氨薄膜的輕敲圖像，掃描范圍為5um。薄膜用作鋰微電池中的正極,并在原始狀態(左)、第一次放電后(中間)和隨后充電后(右)進行測試。充電/放電循環不可逆地改變了薄膜結構。圖片由法國波城大學的B. leutot提供。

 

3）用PeakForce HR表征間同立構聚丙烯(SPP)和聚乙烯氧化物(PEO)共混物。掃描范圍3um,掃描速度5Hz。

 

4）PeakForce QNM圖像揭示了空氣中聚乙烯晶體的分子缺陷。從單個分子的形貌(A)以及粘附力(B)和剛度(C)圖可以看出,缺陷位點剛度顯著降低。圖像大小10nm。

 

5）此模量圖揭示了ULDPE連接層與截面包裝材料的PS/LDPE密封層之間的微妙過渡。掃描范圍為3um

 

6）通過PeakForce TUNA獲得的碳納米管形貌(A)和電流(B)圖。圖像大小1 um。

 

7）使用峰值力輕敲得到云母表面原子級分辨率的形貌和粘附力。

 

8）使用PF QNM得到的聚二基硅氧烷(PDES)模量圖。在3um的掃描范圍內,模量從1.5到15 MPa內變化。