半導體解決方案
JV QCVelox-E 化合物半導體的X射線量測方案
- 產品品牌: 布魯克 Bruker
- 產品產地: 德國
- 應用領域: 專為LED和外延層晶圓分析設計的高分辨率X射線衍射系統
- 產品簡介: QCVelox-E是JV-QC儀器系列中最新最先進的高分辨率 X 射線衍射儀（HRXRD）。它是一款專為化合物半導體行業設計的高分辨率 X 射線衍射質量控制工具，適用于表征所有常見的半導體襯底，包括砷化鎵（GaAs）、磷化銦（InP）、氮化鎵（GaN）、藍寶石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。 QCVelox-E 的測量結果通過 JV RADS 分析軟件進行分析，該軟件是市場領先的 HRXRD 數據模擬、分析和擬合軟件（已獲專利）。它為客戶提供全面且獨特的過程控制解決方案，能夠快速、準確地計算工藝參數，并即時向生產環節反饋，從而提高產量和盈利能力。
專為LED和外延層晶圓分析設計的高分辨率X射線衍射系統
QCVelox-E是JV-QC儀器系列中最新最先進的高分辨率 X 射線衍射儀（HRXRD）。它是一款專為化合物半導體行業設計的高分辨率 X 射線衍射質量控制工具，適用于表征所有常見的半導體襯底，包括砷化鎵（GaAs）、磷化銦（InP）、氮化鎵（GaN）、藍寶石、碳化硅（SiC）、硅（Si）等。
- QCVelox-E 的測量結果通過 JV RADS 分析軟件進行分析，該軟件是市場領先的 HRXRD 數據模擬、分析和擬合軟件（已獲專利）。它為客戶提供全面且獨特的過程控制解決方案，能夠快速、準確地計算工藝參數，并即時向生產環節反饋，從而提高產量和盈利能力。