原子力顯微鏡

Dimension Icon 原子力顯微鏡

Bruker Dimension® Icon? 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇， 其測試功能強大，操作簡便易行。齊集 Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求， Dimension Icon進行了全面革新。全新的系統設計，實現了前所未有的低漂移和低噪音水平?，F在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。

一、亮點

1）終極性能------探針掃描式掃描器

獨特的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現開環噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像，熱漂移速率低于200 pm

2）操作簡單易用------無以倫比的效率

提供簡單、直觀的操作流程，以快速實現發表級數據的獲取。

3）優秀的多功能性------多功能的配件選擇

適合廣泛的實驗、模式、技術和半自動測量。

二、特點

1）特征------高性能和高分辨率

Dimension® Icon?優秀的分辨率，與 Bruker 特有的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension® Icon?是針尖掃描技術的最新革新，一直處于領先地位。該系統配置溫度補償位置傳感器，實現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ 閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸出量。配置Bruker 專利的PeakForce®技術，Dimension Icon可實現智能獲取高分辨圖像。

2）卓越表現

Dimension Icon原子力顯微鏡已成為研究領域最受歡迎的原子力顯微鏡型號之一， 使用Dimension Icon發表文章的數目遠比其他大樣品臺AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平臺上引入最新技術，展現出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過程比以往最先進的AFM 技術更加簡便。Dimension Icon用戶無需像以前一樣，通常需要幾小時的專業參數調整，即可立即獲得高質量的測量結果。Dimension Icon 的每個方面，從完全開放式針尖樣品空間，到軟件參數預設置，都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。

3）靈活的AFM平臺

Dimension Icon 展現出了的無與倫比的性能，穩定性和靈活性，幾乎可以實現以前只有在特制系統中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM 的強大功能完全展現在科研領域和工業領域的研究者面前，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的標準。

Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平臺， 一個平臺，無限可能：

開放的平臺，能整合其他技術,
開放的軟件和硬件，能輕松定制您的研究應用 - "如果它不存在， 就發明它"
電池、有機太陽能等研究的完整解決方案

三、應用

AFM 模式------用AFM拓展您的應用

憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術。

基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨創的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。

四、Dimension Icon數據示例

1）輕敲(Tapping)模式中的syndiotactic polypropylene閉環成像。掃描范圍: 5um。

2）Syndiotactic polypropylene結晶動力學研究:本體聚合物從室溫(左)快速加熱至1600℃的完全熔化·狀態。128℃時,促進了等溫結晶的平衡,并形成比原始層狀晶體更大的晶體。右圖顯示101分鐘的部分結晶圖像。

3）空氣中DNA的輕敲模式閉環圖像。掃描范圍: 2um,掃描速率: 4.88Hz。

4）HOPG上C36H74烷的AFM圖像。清晰可見的片層結構間距,與完全擴展C36H74鏈構象下的長度間距(±4.5nm)一致。

5）使用TR-TUNA模式對金圖案化硅基底上分散的單壁碳形貌和導電性同時成像。掃描范圍: 1um。

6）壓電薄膜材料上Dimension Icon loge刻蝕圖案的壓電響應力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示lcon探針在刻蝕過程中的精確XY定位控制。掃描范圍: 20um

7）Harmonix黏附力成像顯示毛細力相互作用。

8）HOPG上C36H74烷的閉環、高分辨率AFM圖像。掃描范圍: 100nm