衍射儀和散射系統

D8 ADVANCE
  • 產品品牌: 布魯克 Bruker
  • 產品產地: 德國
  • 應用領域: 材料特性的無損表征--- 從基礎研究到工業質控的任何材料進行詳細分析
  • 產品簡介: 支持全面擴展的模塊化系統,可滿足您在環境和非環境條件下對粉末樣品、塊狀樣品和薄膜樣品的分析需求

一、亮點：

D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解決方案

1）0D-1D-2D------所有維度都非常優質的數據質量

不論在何種應用場合，它都是您的最佳探測器：最高的計數率、動態范圍和能量分辨率

2）DAVINCI------面向未來的多用途

采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設計

3）≤0.01°2?------峰位精度

布魯克獨家提供基于NIST標樣剛玉（SRM 1976c）整個角度范圍內的準直保證

4）D8 ADVANCE—面向未來的X射線衍射解決方案

基于獨一無二的D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：

  • 典型的X射線粉末衍射（XRD）
  • 對分布函數（PDF）分析
  • 小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）

由于具有出色的適應能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。


  • 無論是新手用戶還是專家用戶，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
  • 不僅如此——布魯克獨家提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前，在峰位、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8 ADVANCE。

二、D8 ADVANCE 規格

D8 ADVANCE 規格

 

功能

規格

優勢

TRIO 光路和TWIN光路

軟件按鈕切換：

  • 馬達驅動發散狹縫（BB幾何）
  • 高強度Ka1,2平行光束
  • 高分辨率Ka1平行光束
  • 專利：US10429326、US6665372、US7983389



  • 可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換，無需人工干預
  • 是所有類型的樣品分析的理想之選，包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）


動態光束優化

動態同步：


  • 馬達驅動發散狹縫
  • 馬達驅動防散射屏
  • 可變探測器窗口
  • 2?角度范圍：小于1度至>大于150度



 


  • 數據幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響
  • 大大提高了檢測下限，可定量分析少量晶相和非晶相
  • 在較小的2θ角度，具有無與倫比的性能，可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究


 

LYNXEYE XE-T


  • 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV
  • 檢測模式：0D、1D、2D
  • 波長：Cr、Co、Cu、Mo和Ag
  • 專利：EP1647840、EP1510811、US20200033275




  • 無需K?濾波片和二級單色器
  • 銅輻射即可100％過濾鐵熒光
  • 速度比傳統探測器系統快450倍
  • BRAGG 2D模式：使用發散的初級線束收集2D數據
  • 獨一無二的探測器保證：交貨時絕無壞道


EIGER2 R

Dectris 公司開發的基于混合光子計數技術的新一代探測器，支持多種模式（0D / 1D / 2D）


  • 在步進掃描、連續掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測
  • 符合人體工程學的免對準探測器旋轉功能，可優化γ或2?角度范圍
  • 使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學系統 
  • 連續可變的探測器位置，以平衡角度范圍和分辨率


旋轉光管

在線焦斑和點焦斑應用之間輕松快捷地進行免對準切換


  • 無需斷開電纜或水管，無需拆卸管道
  • DAVINCI設計：全自動檢測和配置聚焦方向


自動進樣器


  • FLIPSTICK：9個樣品
  • AUTOCHANGER：90個樣品


在反射和透射幾何中運行

D8 測角儀

帶獨立步進電機和光學編碼器的雙圓測角儀


  • 布魯克獨有的準直保證，確保了無與倫比的準確性和精確度
  • 絕對免維護的驅動機構/齒輪裝置，終身潤滑


非環境條件


  • 溫度：從-4K到2500K
  • 壓力：10-?mbar至100 bar
  • 濕度：5％至95％



  • 在環境和非環境條件下進行研究
  • DIFFRAC設計助您輕松更換樣品臺


 

三、應用

  • 物相定性分析
  • 結晶度及非晶相含量分析
  • 結構精修及解析
  • 物相定量分析
  • 點陣參數精確測量
  • 無標樣定量分析
  • 微觀應變分析
  • 晶粒尺寸分析
  • 原位分析
  • 殘余應力
  • 低角度介孔材料測量
  • 織構及PDF分析
  • 薄膜掠入射
  • 薄膜反射率測量
  • 小角散射

四、特點

1）TWIN / TWIN 光路

布魯克獲得專利的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換，且無需人工干預，是在環境下和非環境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

2）動態光束優化（DBO）

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數據質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能，可為您提供無與倫比的數據質量——尤其是在低2?角度時。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

3）LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D數據的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有最高的計數率和最佳的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。

 

LYNXEYE XE-T具有優于380 eV的能量分辨率，著實出色，是市面上性能最佳的熒光過濾器探測器系統。借助它，您可在零強度損失下對由銅輻射激發的鐵熒光進行100％過濾，而且無需金屬濾波片，因此數據也不會存在偽影，如殘余K?和吸收邊。同樣，也無需用到會消除強度的二級單色器。

布魯克提供獨有的LYNXEYE XE-T探測器保證：交貨時保證無壞道！

 五、相關應用圖片


1）材料可靠性鑒別(PMI)最為常見，這是因為其對原子結構十分靈敏，而這無法通過元素分析技術實現。



2）方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRAC TOPAS軟件全譜擬合分析法。



3）可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果。



4）在DIFFRAC.TEXTURE軟件中，使用球諧函數和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數(ODF)和體積定量分析。



5）在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應力：通過sin2psi方法，使用Cr輻射測量得到。



6）在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。



7）在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2 R 500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 8011 9 mm金納米顆粒進行粒度分析。