BRUKER PROBE的介紹
發布日期：2021-11-23 16:50:26
BRUKER PROBE是一種創新設計，可以提供更高的重復性和分辨率。步計這一性能的提升，達到了布魯克40年來的技術革新，進一步鞏固了其在行業中的地位。無論是用于R&D還是產品測量，BRUKER PROBE都將能夠通過其在研究工作中的廣泛使用，實現更強大的功能、更簡單的操作，以及更完善的檢測過程和數據采集。
BRUKER PROBE的主要特點:
1.較小的彈簧常數更適合測量軟樣品。
2N/m的彈簧常數小于交流模式硅懸臂梁的彈簧常數，適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。
2.用低電阻率硅測量表面電位
懸臂襯底由摻氮硅制成，表面電阻為0.01-0.02ω·cm(為其他襯底的1/200)。這可用于測量表面電位和其他應用。
3.理想情況下，指向終端探針。
BRUKER PROBE的頂點是理想的點端接。
從正面看，四面體探針顯示出良好的對稱性。考慮幾何特征，選擇快速掃描(X)方向。檢查掃描線輪廓和頂點的放大圖。
這就是我們今天說的。BRUKER PROBE是一款創新的產品設計，其所有強大的功能都是共享的。希望對大家以后使用這個設備有所幫助。
武漢瑞德儀科技有限公司主營：BRUKER PROBE、AFM探針、超尖探針、納米壓痕探針、顯微鏡探針針尖、掃描探針顯微鏡探針、導電探針、原子力顯微鏡探針、原子力探針、金剛石探針。